基本解釋
一種用于計(jì)量測(cè)試方面精確對(duì)準(zhǔn)線紋尺刻線或讀數(shù)的儀器。由光學(xué)顯微鏡和電測(cè)量系統(tǒng)組成。這種顯微鏡的對(duì)線精度比光學(xué)顯微鏡要高數(shù)十倍。
詞語來源
該詞語來源于人們的生產(chǎn)生活。
詞語造句
1、目的評(píng)價(jià)萬倍光電顯微鏡在生殖道沙眼衣原體感染診斷中的應(yīng)用價(jià)值。
2、靜態(tài)光電顯微鏡在測(cè)量中可進(jìn)行非接觸瞄準(zhǔn)，提高了瞄準(zhǔn)精度，而且為檢測(cè)自動(dòng)化提供了可靠的基礎(chǔ)。
3、本文報(bào)道了利用半導(dǎo)體材料和器件光電導(dǎo)效應(yīng)研制成功的一種新型成象檢測(cè)系統(tǒng)——光電顯微鏡。
4、江南永新是具有六十多年歷史顯微鏡生產(chǎn)制造經(jīng)驗(yàn)的大型專業(yè)化顯微鏡及光電儀器制造商。
5、用X射線衍射（XRD）、原子力顯微鏡（AFM）、光電子能譜（XPS）和電流—電壓（I-V）測(cè)試方法對(duì)生長的薄膜進(jìn)行了表征。
6、并用掃描電子顯微鏡（SEM）、X光電子能譜（XPS）等對(duì)磨屑形貌、元素的含量等作了分析研究。
7、利用X射線衍射（XRD）、原子力顯微鏡（AFM）和X光電子能譜（XPS）對(duì)薄膜的結(jié)構(gòu)、表面形貌及組成進(jìn)行了比較研究；
8、本文應(yīng)用掃描電子顯微鏡和x射線光電子譜儀研究了聚對(duì)苯二甲酸丁二醇酯的斷裂源特征。
9、用掃描電子顯微鏡和X射線光電子能譜儀觀察分析了磨損表面形貌和元素化學(xué)形態(tài)。
10、并采用掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡和X射線光電子能譜儀分析了薄膜的形貌和組成。
11、光纖激光共焦掃描顯微鏡（FOCSM）是現(xiàn)代光電技術(shù)相結(jié)合的新型顯微成像系統(tǒng)。
12、用掃描電子顯微鏡（SEM）和X射線光電子能譜儀（XPS）對(duì)鋼球磨損表面進(jìn)行了分析。
13、采用掃描電子顯微鏡（SEM）、X射線光電子能譜儀（XPS）、傅立葉紅外光譜儀（IR）對(duì)盤上磨痕進(jìn)行表面分析。
14、利用掃描電子顯微鏡（SEM）、透射電子顯微鏡（TEM）和X射線光電子譜（XPS）對(duì)樣品的形貌、結(jié)構(gòu)及組份進(jìn)行表征。
15、通過光學(xué)顯微鏡、顯微-紅外、光電子能譜（XPS）、元素分析和機(jī)械感度測(cè)定對(duì)包覆效果進(jìn)行表征。
16、采用X射線衍射法（XRD）、掃描電子顯微鏡（SEM）和X射線光電子能譜儀（XPS）對(duì)薄膜進(jìn)行了表征與分析。
17、為改進(jìn)掃描顯微鏡，提出了一個(gè)新的光電掃描方法與裝置。
18、對(duì)每步處理后的玻璃用X-射線光電子能譜（XPS）、原子力顯微鏡（AFM）和水接觸角分析。
19、本文研究了經(jīng)堿性亞鈉法處理的桉木化學(xué)熱磨機(jī)械漿紙頁強(qiáng)度指標(biāo)，并利用X射線光電子能譜（XPS）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)分析了紙漿纖維的表面特征。
20、并用X射線光電子能譜（XPS）和掃描電子顯微鏡（SEM）對(duì)纖維表面和CFRMC尼龍界面進(jìn)行了研究。
21、用光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡、電子探針、光電子能譜和X射線衍射儀對(duì)礬土剛玉相組成進(jìn)行了研究。
22、利用電子顯微鏡的覆型法和直接透射法可以研究銀氧銫光電陰極中的銀膠粒和銀顆粒的結(jié)構(gòu)；
23、射線光電子能譜（XPS）和俄歇電子光譜（XAES），掃描和透射電子顯微鏡（SEM-EDX，TEM）在界面化學(xué)方面的應(yīng)用。
24、薄膜的鍵結(jié)構(gòu)采用X射線光電子能譜儀（XPS）分析，納米結(jié)構(gòu)采用高分辨率透射電子顯微鏡（HRTEM）分析。
25、利用金相顯微鏡（OM）、掃描電鏡（SEM）、X射線衍射（XRD）、X光電子能譜（XPS），顯微硬度儀和劃痕儀對(duì)薄膜的結(jié)構(gòu)、成份和性能進(jìn)行分析。
26、應(yīng)用光電子能譜分析儀（XPS）檢測(cè)了包覆產(chǎn)物的元素含量，通過掃描電子顯微鏡（SEM）觀察了包覆前后粒子的表觀形貌。
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